老化測試系統

產品簡介：

SD2000老化測試系統提供對MCU、CPU、CPLD、FPGA、大容量存儲器等超大規模集成電路的高低溫動態老化測試，將老化與電參數測試結合，在老化過程中可測試不同溫度區間器件的電參數特性。

產品型號：SD2000

更新時間：2024-11-19

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產品介紹

產品描述

老化測試系統

SD2000老化測試系統提供對MCU、CPU、CPLD、FPGA、大容量存儲器等超大規模集成電路的高低溫動態老化測試，將老化與電參數測試結合，在老化過程中可測試不同溫度區間器件的電參數特性。

基本特點:

1. 老化測試系統單板128路雙向I/O通道，共用8個時鐘邊沿（6個驅動邊沿，2個比較邊沿）
2. 1Mbit/通道圖形深度，失效存儲深度1kbit/通道，只存失效
3. 支持圖形向量微指令
4. 單板4通道PMU，提供 FV,FI,MV,MI功能，電壓范圍-3V~+12V；電流范圍-80mA~+80mA
5. 數字通道驅動電壓范圍-3V~+12V；比較電壓范圍-3V~+12V
6. 數量可配置程控電源，可提供0.5~5V 30A 0.5~ 3.3 30A 3-24V 等
7. 提供各老化試驗區電壓、電流測試
8. 128個輸出控制繼電器
9. 試驗溫度范圍：5℃～150℃；溫度均勻度±3℃
10.RJ45網口數據傳輸與控制
11.高溫老化試驗箱分16個區域，支持同時老化測試16種不同類型、不同封裝形式的器件
12.系統提供電源過壓、過流和短路保護

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SD2000老化測試系統提供對MCU、CPU、CPLD、FPGA、大容量存儲器等超大規模集成電路的高低溫動態老化測試，將老化與電參數測試結合，在老化過程中可測試不同溫度區間器件的電參數特性。

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SD2000老化測試系統提供對MCU、CPU、CPLD、FPGA、大容量存儲器等超大規模集成電路的高低溫動態老化測試，將老化與電參數測試結合，在老化過程中可測試不同溫度區間器件的電參數特性。

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